<?xml version="1.0"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><rdf:Description rdf:about="https://dk.um.si/IzpisGradiva.php?id=20391"><dc:title>UPORABA AFM SONDE ZA POTREBE NANOROBOTIKE</dc:title><dc:creator>Bratuša,	Marko	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Šafarič,	Riko	(Mentor)
	</dc:creator><dc:subject>nanorobotika</dc:subject><dc:subject>AFM metode</dc:subject><dc:subject>Akiyamo sonda</dc:subject><dc:description>Na področju nanorobotike se za potrebe mikroskopije vse bolj pogosto uporablja  AFM metoda. To je metoda mikroskopije, kjer uporabljamo fizikalni efekt Van der Waals-ove sile. AFM nam v navezi z različnimi vrstami sond omogoča izris slike, izris topografije in meritve 3D objekta v nanomerilu. Ena izmed sond, ki se uporablja za to vrsto mikroskopije, je Akiyamo sonda. Slednja je sestavljena iz nihajnih vilic in tipala ter deluje po principu razlike v frekvenci nihanja tipala in zaznavanju sil med sondo in merjenim vzorcem.            </dc:description><dc:publisher>[M. Bratuša]</dc:publisher><dc:date>2011</dc:date><dc:date>2011-09-18 18:08:59</dc:date><dc:type>Diplomsko delo/naloga</dc:type><dc:identifier>20391</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></rdf:Description></rdf:RDF>