<?xml version="1.0"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><rdf:Description rdf:about="https://dk.um.si/IzpisGradiva.php?id=52287"><dc:title>Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji faz</dc:title><dc:creator>Zupanič,	Franc	(Avtor)
	</dc:creator><dc:subject>odbiti elektroni</dc:subject><dc:subject>koeficient povratnega sipanja elektronov</dc:subject><dc:subject>vrstična elektronska mikroskopija</dc:subject><dc:subject>SEM</dc:subject><dc:subject>karakterizacija</dc:subject><dc:subject/><dc:publisher>Društvo za vakuumsko tehniko Slovenije</dc:publisher><dc:date>2011</dc:date><dc:date>2015-07-10 17:21:04</dc:date><dc:type>Delo ni kategorizirano</dc:type><dc:identifier>52287</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></rdf:Description></rdf:RDF>