Uporaba mikroposnetkov z odbitimi elektroni pri identifikaciji fazZupanič, Franc (Avtor) odbiti elektronikoeficient povratnega sipanja elektronovvrstična elektronska mikroskopijaSEMkarakterizacijaDruštvo za vakuumsko tehniko Slovenije20112015-07-10 17:21:04Delo ni kategorizirano52287UDK: 620.187.2OceCobissID: 16059650COBISS_ID: 14841622ISSN pri članku: 0351-9716NUK URN: URN:SI:UM:DK:WNCM9AVCsl