<?xml version="1.0"?>
<metadata xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><dc:title>Primerjava vplivov malih kapacitivnosti in induktivnosti na spreminjanje nihanja kvarčnega oscilatorja in ekonomski vidik za implementacijo čipa v proizvodnjo</dc:title><dc:creator>Pišek,	Igor	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Matko,	Vojko	(Mentor)
	</dc:creator><dc:creator>Završnik,	Bruno	(Mentor)
	</dc:creator><dc:subject>kapacitivnost</dc:subject><dc:subject>induktivnost</dc:subject><dc:subject>vplivi malih kapacitivnosti in induktivnosti</dc:subject><dc:subject>kvarčni kristal</dc:subject><dc:subject>kvarčni oscilator</dc:subject><dc:subject>nabava</dc:subject><dc:description>Tema diplomskega dela je prikaz merjenja vplivov malih kapacitivnosti in induktivnosti na spreminjanje nihanja kvarčnega oscilatorja. Podrobneje bodo razložene različne meritve s kvarčnimi kristali, problematika pri takšnih meritvah in praktični prikaz meritev s čipom, ki vsebuje dva kvarčna kristala. Z vidika velikega proizvodnega podjetja bo predstavljen tudi strateški proces nabave za implementacijo čipa v proizvodnjo, določanje potencialnih dobaviteljev, izbor in potrditev dobaviteljev ter potrebni koraki za testiranje in končno sprostitev v proizvodni proces.</dc:description><dc:publisher>I. Pišek</dc:publisher><dc:date>2015</dc:date><dc:date>2015-08-26 05:22:33</dc:date><dc:type>Diplomsko delo</dc:type><dc:identifier>54227</dc:identifier><dc:identifier>UDK: 621.373.1:658.7(043.2)</dc:identifier><dc:identifier>COBISS_ID: 19206166</dc:identifier><dc:identifier>NUK URN: URN:SI:UM:DK:9ZGDZP9Z</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></metadata>
