<?xml version="1.0"?>
<metadata xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><dc:title>Razvoj in validacija metode z modificirano Bi-Cu elektrodo iz steklastega ogljika</dc:title><dc:creator>Kovačec,	Laura	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Finšgar,	Matjaž	(Mentor)
	</dc:creator><dc:creator>Rajh,	Barbara	(Komentor)
	</dc:creator><dc:subject>elektrokemija</dc:subject><dc:subject>težke kovine</dc:subject><dc:subject>validacija</dc:subject><dc:description>V magistrskem delu je predstavljena delna validacija metod z modificiranimi elektrodami kombinacij Bi-Cu na steklastem ogljiku za določanje Zn(II), Cd(II) in Pb(II). Analize smo izvajali z elektrokemijsko tehniko square wave anodno striping voltametrijo (SWASV). Dvanajst različnih elektrod smo pripravili in situ pri dveh različnih skupnih masnih koncentracijah Bi(III) in Cu(II) ter njunih različnih razmerjih v raztopini. Za vsako in situ elektrodo so bila določena območja linearnega odziva za Zn(II), Cd(II) in Pb(II), ki so morala zadoščati dvema kriterijema linearnosti: koeficientu kvalitete, QC (QC ≤ 5 %), in kvadratu korelacijskega koeficienta, R2 (R2 ≥ 0,995). Mejo zaznavnosti (LOD) in mejo določljivosti (LOQ) smo določili s pomočjo razmerja signal/šum, občutljivost pa iz naklonov umeritvene premice. Iz izkoristka pri določeni koncentraciji Zn(II), Cd(II) in Pb(II) smo določili točnost, natančnost metode in sistema pa smo določili na podlagi relativnega standardnega odmika v odstotkih (RSD [%]).
Izmed vseh in situ elektrod smo na koncu izbrali dve: eno z najboljšo točnostjo (izkoristkom najbližje 100,0 %) in eno z najboljšo natančnostjo (najnižjim RSD [%]). Na obeh smo preučili vpliv interferenc in izvedli test realnega vzorca.</dc:description><dc:publisher>[L. Kovačec]</dc:publisher><dc:date>2020</dc:date><dc:date>2020-01-12 13:45:28</dc:date><dc:type>Magistrsko delo/naloga</dc:type><dc:identifier>75667</dc:identifier><dc:identifier>UDK: 544.6.076.32(043.2)</dc:identifier><dc:identifier>COBISS_ID: 19686659</dc:identifier><dc:identifier>NUK URN: URN:SI:UM:DK:K7VSNYXY</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></metadata>
