| Naslov: | UPORABA AFM SONDE ZA POTREBE NANOROBOTIKE |
|---|
| Avtorji: | ID Bratuša, Marko (Avtor)
ID Šafarič, Riko (Mentor) Več o mentorju...  |
|---|
| Datoteke: |  UNI_Bratusa_Marko_2011.pdf (2,59 MB)
MD5: 6E0212DF0A11DD3C087DAFA0B01D5FA0
PID: 20.500.12556/dkum/a1172b16-cb5b-48df-9f8e-da096651b3a4
|
|---|
| Jezik: | Slovenski jezik |
|---|
| Vrsta gradiva: | Diplomsko delo/naloga |
|---|
| Organizacija: | FERI - Fakulteta za elektrotehniko, računalništvo in informatiko
|
|---|
| Opis: | Na področju nanorobotike se za potrebe mikroskopije vse bolj pogosto uporablja AFM metoda. To je metoda mikroskopije, kjer uporabljamo fizikalni efekt Van der Waals-ove sile. AFM nam v navezi z različnimi vrstami sond omogoča izris slike, izris topografije in meritve 3D objekta v nanomerilu. Ena izmed sond, ki se uporablja za to vrsto mikroskopije, je Akiyamo sonda. Slednja je sestavljena iz nihajnih vilic in tipala ter deluje po principu razlike v frekvenci nihanja tipala in zaznavanju sil med sondo in merjenim vzorcem. |
|---|
| Ključne besede: | nanorobotika, AFM metode, Akiyamo sonda |
|---|
| Kraj izida: | Maribor |
|---|
| Založnik: | [M. Bratuša] |
|---|
| Leto izida: | 2011 |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DKUM-20391 |
|---|
| UDK: | 007.52(043.2) |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 15583510 |
|---|
| NUK URN: | URN:SI:UM:DK:75J9HWO5 |
|---|
| Datum objave v DKUM: | 23.09.2011 |
|---|
| Število ogledov: | 1909 |
|---|
| Število prenosov: | 122 |
|---|
| Metapodatki: |    |
|---|
| Področja: | KTFMB - FERI
|
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Skupna ocena: | (0 glasov) |
|---|
| Vaša ocena: | Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. |
|---|
| Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |
