| Title: | Primerjava vplivov malih kapacitivnosti in induktivnosti na spreminjanje nihanja kvarčnega oscilatorja in ekonomski vidik za implementacijo čipa v proizvodnjo |
|---|
| Authors: | ID Pišek, Igor (Author)
ID Matko, Vojko (Mentor) More about this mentor... 
ID Završnik, Bruno (Mentor) More about this mentor... |
|---|
| Files: |  UN_Pisek_Igor_2015.pdf (2,47 MB)
MD5: DFC66533499E62CCC62BEA6D6D687973
|
|---|
| Language: | Slovenian |
|---|
| Work type: | Undergraduate thesis |
|---|
| Typology: | 2.11 - Undergraduate Thesis |
|---|
| Organization: | FERI - Faculty of Electrical Engineering and Computer Science
|
|---|
| Abstract: | Tema diplomskega dela je prikaz merjenja vplivov malih kapacitivnosti in induktivnosti na spreminjanje nihanja kvarčnega oscilatorja. Podrobneje bodo razložene različne meritve s kvarčnimi kristali, problematika pri takšnih meritvah in praktični prikaz meritev s čipom, ki vsebuje dva kvarčna kristala. Z vidika velikega proizvodnega podjetja bo predstavljen tudi strateški proces nabave za implementacijo čipa v proizvodnjo, določanje potencialnih dobaviteljev, izbor in potrditev dobaviteljev ter potrebni koraki za testiranje in končno sprostitev v proizvodni proces. |
|---|
| Keywords: | kapacitivnost, induktivnost, vplivi malih kapacitivnosti in induktivnosti, kvarčni kristal, kvarčni oscilator, nabava |
|---|
| Place of publishing: | [Maribor |
|---|
| Publisher: | I. Pišek |
|---|
| Year of publishing: | 2015 |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DKUM-54227 |
|---|
| UDC: | 621.373.1:658.7(043.2) |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 19206166 |
|---|
| NUK URN: | URN:SI:UM:DK:9ZGDZP9Z |
|---|
| Publication date in DKUM: | 09.12.2015 |
|---|
| Views: | 1335 |
|---|
| Downloads: | 143 |
|---|
| Metadata: |    |
|---|
| Categories: | KTFMB - FERI
|
|---|
|
:
|
Copy citation |
|---|
| | | | Average score: | (0 votes) |
|---|
| Your score: | Voting is allowed only for logged in users. |
|---|
| Share: |  |
|---|
Hover the mouse pointer over a document title to show the abstract or click
on the title to get all document metadata. |
