| Naslov: | Uporaba različnih načinov merjenja s tehniko mikroskopije na atomsko silo : magistrsko delo |
|---|
| Avtorji: | ID Novak, Anže (Avtor)
ID Finšgar, Matjaž (Mentor) Več o mentorju... 
ID Vrabelj, Tanja (Komentor) |
|---|
| Datoteke: |  MAG_Novak_Anze_2023.pdf (6,82 MB)
MD5: 93E68AFBBDC7C63FF088404FBAF7A4BC
|
|---|
| Jezik: | Slovenski jezik |
|---|
| Vrsta gradiva: | Magistrsko delo/naloga |
|---|
| Tipologija: | 2.09 - Magistrsko delo |
|---|
| Organizacija: | FKKT - Fakulteta za kemijo in kemijsko tehnologijo
|
|---|
| Opis: | Magistrska naloga prikazuje uporabo in primerjavo različnih načinov merjenja s tehniko mikroskopije na atomsko silo (AFM). Ta analizna tehnika temelji na fizikalni interakciji tipala s površino vzorca in omogoča proučevanje topografije in mehanskih lastnostih vzorca na njegovi površini. V nalogi so podrobno predstavljeni in proučevani kontaktni način delovanja, način potrkavanja in način merjenja prečnih sil.
Kontaktni način AFM je osnovni način delovanja za proučevanje topografskih značilnosti površine vzorcev. S pomočjo kontaktnega načina delovanja smo proučevali enakomerno porazdeljene valjaste strukture na površini kalibracijskega standarda HS 100MG. Na podlagi pridobljenih rezultatov smo določili višino in premer teh struktur in opazili boljšo točnost pri določevanju višine topografskih ovir z manjšanjem analiziranega območja. Poleg tega smo kontaktni način uporabili za proučevanje zelo ravne površine vzorca nerjavnega jekla AISI 316L z določeno vrednostjo aritmetične srednje hrapavosti 1,04 nm, na preiskovanem območju lateralnih dimenzij 5,00 µm ∙ 5,00 µm.
Kot drugi način delovanja AFM smo proučevali uporabo načina potrkavanja. V primeru analize kalibracijskega standarda HS 100MG, v primerjavi s kontaktnim načinom, je ta način delovanja pokazal boljšo točnost določevanja višine topografskih ovir na izbranih preiskovanih območjih, kar pomeni, da je ta način primernejši za vzorce z visokimi in ostrimi višinskimi prehodi na večjih preiskovanih območjih. Slednje pripisujemo načinu delovanja osciliranja tipala nad površino vzorca. Analiza vzorca nerjavnega jekla je z možnostjo beleženja faze oscilacije tipala prikazala dodatne informacije o mehanskih lastnostih površine vzorca, kar predstavlja veliko prednost v primerjavi s kontaktnim načinom merjenja.
Z načinom merjenja prečnih sil smo poleg osnovnih topografskih značilnosti površine proučevali tudi razliko v trenju na površini vzorca nerjavnega jekla, kar predstavlja pomembno prednost v primerjavi z načinom potrkavanja in kontaktnim načinom uporabe, kjer slednje ni mogoče. |
|---|
| Ključne besede: | mikroskopija na atomsko silo, AFM, kontaktni način merjenja, način s potrkavanjem, način merjenja prečnih sil |
|---|
| Kraj izida: | Maribor |
|---|
| Kraj izvedbe: | Maribor |
|---|
| Založnik: | [A. Novak] |
|---|
| Leto izida: | 2023 |
|---|
| Št. strani: | 1 spletni vir (1 datoteka PDF (XIII, 52 f.)) |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DKUM-84518 |
|---|
| UDK: | 620.1/.2(043.2) |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 163448835 |
|---|
| Datum objave v DKUM: | 18.07.2023 |
|---|
| Število ogledov: | 679 |
|---|
| Število prenosov: | 138 |
|---|
| Metapodatki: |    |
|---|
| Področja: | KTFMB - FKKT
|
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Skupna ocena: | (0 glasov) |
|---|
| Vaša ocena: | Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. |
|---|
| Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |
