| Title: | Uporaba različnih načinov merjenja s tehniko mikroskopije na atomsko silo : magistrsko delo |
|---|
| Authors: | ID Novak, Anže (Author)
ID Finšgar, Matjaž (Mentor) More about this mentor... 
ID Vrabelj, Tanja (Comentor) |
|---|
| Files: |  MAG_Novak_Anze_2023.pdf (6,82 MB)
MD5: 93E68AFBBDC7C63FF088404FBAF7A4BC
|
|---|
| Language: | Slovenian |
|---|
| Work type: | Master's thesis/paper |
|---|
| Typology: | 2.09 - Master's Thesis |
|---|
| Organization: | FKKT - Faculty of Chemistry and Chemical Engineering
|
|---|
| Abstract: | Magistrska naloga prikazuje uporabo in primerjavo različnih načinov merjenja s tehniko mikroskopije na atomsko silo (AFM). Ta analizna tehnika temelji na fizikalni interakciji tipala s površino vzorca in omogoča proučevanje topografije in mehanskih lastnostih vzorca na njegovi površini. V nalogi so podrobno predstavljeni in proučevani kontaktni način delovanja, način potrkavanja in način merjenja prečnih sil.
Kontaktni način AFM je osnovni način delovanja za proučevanje topografskih značilnosti površine vzorcev. S pomočjo kontaktnega načina delovanja smo proučevali enakomerno porazdeljene valjaste strukture na površini kalibracijskega standarda HS 100MG. Na podlagi pridobljenih rezultatov smo določili višino in premer teh struktur in opazili boljšo točnost pri določevanju višine topografskih ovir z manjšanjem analiziranega območja. Poleg tega smo kontaktni način uporabili za proučevanje zelo ravne površine vzorca nerjavnega jekla AISI 316L z določeno vrednostjo aritmetične srednje hrapavosti 1,04 nm, na preiskovanem območju lateralnih dimenzij 5,00 µm ∙ 5,00 µm.
Kot drugi način delovanja AFM smo proučevali uporabo načina potrkavanja. V primeru analize kalibracijskega standarda HS 100MG, v primerjavi s kontaktnim načinom, je ta način delovanja pokazal boljšo točnost določevanja višine topografskih ovir na izbranih preiskovanih območjih, kar pomeni, da je ta način primernejši za vzorce z visokimi in ostrimi višinskimi prehodi na večjih preiskovanih območjih. Slednje pripisujemo načinu delovanja osciliranja tipala nad površino vzorca. Analiza vzorca nerjavnega jekla je z možnostjo beleženja faze oscilacije tipala prikazala dodatne informacije o mehanskih lastnostih površine vzorca, kar predstavlja veliko prednost v primerjavi s kontaktnim načinom merjenja.
Z načinom merjenja prečnih sil smo poleg osnovnih topografskih značilnosti površine proučevali tudi razliko v trenju na površini vzorca nerjavnega jekla, kar predstavlja pomembno prednost v primerjavi z načinom potrkavanja in kontaktnim načinom uporabe, kjer slednje ni mogoče. |
|---|
| Keywords: | mikroskopija na atomsko silo, AFM, kontaktni način merjenja, način s potrkavanjem, način merjenja prečnih sil |
|---|
| Place of publishing: | Maribor |
|---|
| Place of performance: | Maribor |
|---|
| Publisher: | [A. Novak] |
|---|
| Year of publishing: | 2023 |
|---|
| Number of pages: | 1 spletni vir (1 datoteka PDF (XIII, 52 f.)) |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DKUM-84518 |
|---|
| UDC: | 620.1/.2(043.2) |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 163448835 |
|---|
| Publication date in DKUM: | 18.07.2023 |
|---|
| Views: | 677 |
|---|
| Downloads: | 138 |
|---|
| Metadata: |    |
|---|
| Categories: | KTFMB - FKKT
|
|---|
|
:
|
Copy citation |
|---|
| | | | Average score: | (0 votes) |
|---|
| Your score: | Voting is allowed only for logged in users. |
|---|
| Share: |  |
|---|
Hover the mouse pointer over a document title to show the abstract or click
on the title to get all document metadata. |
