| Naslov: | Detekcija napak v proizvodnji z uporabo algoritma YOLO : magistrsko delo |
|---|
| Avtorji: | ID Babajić, Jovan (Avtor) ID Klančnik, Simon (Mentor) Več o mentorju...  |
| Datoteke: | MAG_Babajic_Jovan_2025.pdf (4,83 MB) MD5: 9FAAF55D3592375CD8DED1EFAA77BF07
|
|---|
| Jezik: | Slovenski jezik |
|---|
| Vrsta gradiva: | Magistrsko delo/naloga |
|---|
| Tipologija: | 2.09 - Magistrsko delo |
|---|
| Organizacija: | FS - Fakulteta za strojništvo
|
|---|
| Opis: | Magistrsko delo preučuje uporabo algoritma You Only Look Once (YOLO) za zaznavanje napak na piškotkih v proizvodnih procesih. Ugotovitve kažejo, da modeli manjše velikosti učinkovito zaznavajo napake pri manjših podatkovnih naborih, medtem ko večji modeli zahtevajo večjo količino podatkov za optimalno delovanje. Implementacija YOLO algoritma za avtomatizirano zaznavanje napak prinaša izboljšano kakovost in učinkovitost proizvodnje ter zmanjšuje stroške. Avtomatizacija omogoča zaposlenim, da se osredotočijo na analizo podatkov, kar povečuje njihovo zadovoljstvo in vrednost. Delo poudarja pomembnost naprednih tehnologij pri spodbujanju inovacij in konkurenčne prednosti v industriji. |
|---|
| Ključne besede: | YOLO, zaznavanje napak, piškotek, avtomatizirana kontrola kakovosti, strojno učenje |
|---|
| Kraj izida: | Maribor |
|---|
| Kraj izvedbe: | Maribor |
|---|
| Založnik: | [J. Babajić] |
|---|
| Leto izida: | 2025 |
|---|
| Št. strani: | 1 spletni vir (1 datoteka PDF (XI, 75 f.)) |
|---|
| PID: | 20.500.12556/DKUM-91787  |
|---|
| UDK: | 658.56:004.85(043.2) |
|---|
| COBISS.SI-ID: | 227999235  |
|---|
| Datum objave v DKUM: | 03.03.2025 |
|---|
| Število ogledov: | 128 |
|---|
| Število prenosov: | 69 |
|---|
| Metapodatki: |  |
|---|
| Področja: | KTFMB - FS
|
|---|
|
:
|
Kopiraj citat |
|---|
| | | | Skupna ocena: | (0 glasov) |
|---|
| Vaša ocena: | Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom. |
|---|
| Objavi na: |  |
|---|
Postavite miškin kazalec na naslov za izpis povzetka. Klik na naslov izpiše
podrobnosti ali sproži prenos. |